大面积烧结不倾斜、不分层、不开裂 | 汉源微烧结银膜实现均匀可靠互连

烧结银材料因其优异的导热和导电性能,被广泛应用于宽带隙半导体器件的封装互连。然而,在实际的大面积烧结互连过程中,传统的烧结银膏体常常面临一个痛点:银颗粒容易发生沉降,导致银膏分布不均匀,进而引发烧结层倾斜、分层甚至开裂,最终造成器件失效。

针对这一行业难题,广州汉源微电子封装材料有限公司自研创新预成型银膜制备技术。该技术通过优化烧结银膜浆料配方,并采用流延法制备,成功推出烧结银膜,为高可靠性功率半导体封装提供了全新的解决方案。

告别沉降,提升良率

汉源微烧结银膜通过浆料配方优化,显著提高了导热金属粉颗粒之间的粘合力,避免成膜过程中发生开裂,提升了银膜表面平整度,有效保证银膜产品的烧结性能。

支持卷带形式包装(载带规格0.1mm聚酯),也可根据实际需求加工成片状,极大地提升了产线操作的便利性。

烧结银膜特征.png

性能优异,适配严苛工况

汉源微烧结银膜:

高纯度与高致密:孔隙率仅约10%,相对密度达40~50%,密度>8.4g/cm³。

热匹配性佳:热膨胀系数为20x10⁻⁶/℃,能与芯片材料实现良好的热匹配,降低热应力。

耐高温性能:熔点高达960℃,确保器件在高温工况下的稳定运行。

精密厚度控制:产品厚度精准控制在50±5μm,外观呈银灰色。

温和工艺,高效互连

汉源微烧结银膜具备宽泛且温和的工艺窗口,有效降低了对芯片的损伤风险:

银膜转印条件:温度125~150℃,压力1-3MPa,时间仅需1-3秒。

烧结条件:温度250℃,压力15MPa,时间3~5min。

连接强度与导电性:芯片粘接强度可达80MPa,电阻率

高导高强,稳定可靠

在实际应用验证中,汉源微烧结银膜在金-金界面,于250℃、15MPa压力下烧结5min,烧结后形成的连接层:热导率 ≥200W/(m·K),提供极佳的散热通道;剪切强度 ≥60MPa,满足严苛的机械可靠性要求。

汉源微电子烧结银膜解决方案,以“配方革新+工艺升级+性能升级”的完整技术体系,一次性解决了银膏沉降不均、成型不良、易损易碎、可靠性不足等行业痛点,完美契合了功率半导体器件对封装互连的严苛需求,是宽带隙半导体大面积烧结互连的理想选择。


【关于汉源微电子】

广州汉源微电子封装材料有限公司,1999 年创业,深耕高端精密焊料、烧结互连材料二十余年,拥有近百项自主专利,产品配套新能源汽车、AI 服务器、储能、半导体、航空航天等头部客户,可提供封装材料定制、工艺、检测一站式解决方案。

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